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廠商性質(zhì)
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2025-03-25
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詳細(xì)介紹
| 品牌 | 北京精科 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,公安/司法,汽車(chē)及零部件 |
TZTFE-2000薄膜鐵電測(cè)試儀
TZTFE-2000薄膜鐵電測(cè)試儀是一款應(yīng)用于薄膜材料的鐵電性能測(cè)試的設(shè)備，該設(shè)備具有動(dòng)態(tài)電滯回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態(tài)電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印跡(IM)的測(cè)試功能.，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。
TZTFE-2000薄膜鐵測(cè)試儀與探針臺(tái)配套使用，可實(shí)現(xiàn)薄膜的鐵電性能測(cè)試。動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率和激勵(lì)測(cè)試電源，用戶(hù)可根據(jù)需要進(jìn)行選擇，動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率范圍為1mHz～500kHz可選，激勵(lì)測(cè)試電源±10/30/100/200/500VAC可選，也可根據(jù)用戶(hù)需要進(jìn)行定制。
TZTFE-2000薄膜鐵測(cè)試儀本測(cè)試系統(tǒng)由主控器、探針臺(tái)、計(jì)算機(jī)及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了內(nèi)置激勵(lì)測(cè)試電源、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、通訊總線等功能，系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能，測(cè)試時(shí)，無(wú)需改變測(cè)試樣品的連接，即可實(shí)現(xiàn)滯回，脈沖，漏電，IV等性能測(cè)試。
本測(cè)試系統(tǒng)鐵電性能測(cè)試采用改進(jìn)的Sawyer- Tower測(cè)量方法，與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié)，容易定標(biāo)和校準(zhǔn)，并且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度。
本系統(tǒng)提供外接高壓放大器的接口，對(duì)于需要做高壓測(cè)試、高壓漏電流測(cè)試 的用戶(hù)，可直接擴(kuò)展此功能。
用戶(hù)選擇此款設(shè)備，需向廠家提供測(cè)試頻率、激勵(lì)測(cè)試電壓等要求。
測(cè)試功能：
· 動(dòng)態(tài)電滯回線(DHM)
· I-V特性
· 脈沖(PUND)
· 靜態(tài)電滯回線(SHM)
· 疲勞(FM)
· 漏電流(LM)
· 電流-偏壓
· 保持力(RM)
· 印跡(IM)
可擴(kuò)展部件：
· 探針臺(tái)
· 主要技術(shù)參數(shù)：
1.電壓范圍（內(nèi)置電壓）：±40V，（可外接高壓放大器，最大10KV）；
2.ADC位數(shù)：18；
3.最小電荷分辨率：≤10fC；
4.最大電荷分辨率：276μC；
5.最大電滯回線測(cè)試頻率：0.03Hz~300KHz；
6.最小電滯回線測(cè)試頻率：0.01Hz；
7.最小脈沖寬度：1μs；
8.最小脈沖上升時(shí)間：50μs；
9.最大脈沖寬度：1μs；
10.額定功率：≥500W；
11.設(shè)備總電源方式：AC：220V；
12.配備JKTD型探針臺(tái)(尺寸:直徑30mm,材質(zhì)：銅,線纜：同軸線/三軸線；)
13.漏電精度：1pA；
14.固定探針：彈簧固定/管狀固定；
15.接頭類(lèi)型：BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚(yú)夾/接線端子。
選配高壓功率放大器:
1.輸出電壓：-200～200V
2.輸出電流：-100～100mA
3.大信號(hào)帶寬：DC≥500KHz/s
4.小信號(hào)帶寬：DC≥10kHz(-3dB)
5.隨時(shí)間穩(wěn)定性：50ppm/小時(shí)；
6.隨溫度穩(wěn)定性：200℃；
7.精度：≤0.1%滿(mǎn)量程；
8.設(shè)備帶有TTL接口；
9.設(shè)備帶有遠(yuǎn)端控制BNC接口；
10.供電：220V，50Hz。
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