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薄膜介電常數及損耗測試儀的三電極結構設計

更新時間:2025-02-19  |  點擊率:563
薄膜介電常數及損耗測試儀是一款針對薄膜測試的專用設備,測試薄膜介電常數及損耗需要特制的夾具,通過軟件可以采集到介損(tgd)及介電常數(ε)器件的介電性能測量與分析,可測試以下參數隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規律:電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(B)、導納(Y)、損耗(D)、品質因數(Q)等參數,同時計算獲得反應材料介電性能的復介電常數和損耗參數。
其采用了西林電橋的經典線路。主要可以測量電容器,互感器,變壓器,各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質損耗( tgd)和電容量( Cx)以,其測量線路采用“正接法"即測量對地絕緣的試品。電橋由橋體、指另儀、跟蹤器組成,本電橋特別適應測量各類絕緣油和絕緣材料的介損(tgd)及介電常數(ε)。
三電極結構設計:
微調千分尺:微調千分尺具備0.001mm的調節精度,可精細化調節上下電極之間的距離。
平行板測試電極:下電極固定在底部支撐座,上電極可由微調千分尺調節行程距離。上電極帶有保護電極。
上電極片:上電極標配有2mm球頭電極、φ26.8mm圓片電極和φ38mm圓片電極。可根據樣品大小隨時更換。
鎖緊裝置:當樣品放入上下電極之間后,可調節此鎖緊裝置,固定上下電極的調節行程。防止輕微移動引起的刻度偏差。
嚴格按照ASTM D150國際標準設計,電極表面鍍金處理,導電性能好、抗氧化,使用壽命更長。 
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